平成30年6月22日
熊本大学
九州シンクロトロン光研究センター
科学技術振興機構
東京大学
世界初、測定データだけで物質のミクロ構造と構造ゆらぎを推定
―電池、電子デバイスなどの材料研究に新解析法―
熊本大学パルスパワー科学研究所 赤井一郎 教授らの研究グループは、金属、半導体、絶縁体等の広域X線吸収微細構造(注1)の解析法に、スパースモデリング(注2)を適用しました。その結果、従来法では必要とされたミクロ構造の事前知識 を必要とせず、測定データのみから、観測対象とする原子近傍10 Å(1 ㎚)程度までのミクロ構造と、近接原子の構造ゆらぎや可動性(注3)を推定することを可能にしました。この方法は、新規解析法として新規機能性材料や、熱電材料、二次電池の固体電解質材料等の物質の構造解明に応用され、電池の高機能化や長寿命化などに貢献することが期待されます。
本研究は、文部科学省科学研究費助成事業(熊本大学 赤井一郎 教授)およびJST戦略的創造研究推進事業(さきがけ 五十嵐康彦 研究者、CREST 東京大学 岡田真人 教授)の支援を受けて行いました。本研究成果は「Journal of the Physical Society of Japan」オンライン版に平成30年6月22日に掲載されます。
●物質のミクロ構造解析において、「フーリエ変換」を用いる従来法では、ミクロ構造の事前知識を必要とするため詳細な解析が困難だった。
●最新の情報抽出技術「スパースモデリング」を用い、事前知識を必要とせずに測定データのみから原子周辺の構造と原子の構造ゆらぎを解析できる手法を世界で初めて開発。
●新規材料研究において物質の構造の推定が可能となり、電池の高機能化や長寿命化などに貢献することが期待される。