BL15：物質科学ビームライン

偏向電磁石からのシンクロトロン放射光を利用できるビームラインです。3.5 ｋeV 〜 23 ｋeVのX線を利用して材料評価などを行うことができます。H2ガスの供給・除害設備を利用することができます。


単色X線トポグラフィー
 
薄膜X線回折用多軸回折計
（RIGAKU製 SmartLab.）
粉末X線回折装置
（デバイシェラーカメラ）
光子エネルギー範囲 3.5 ｋeV 〜 23※ ｋeV
エネルギー分解能（△E/E） 10-4 〜 10-3
光子数 108 〜 1011 photons/sec
ビームサイズ（試料面） 0.5 mm（H） × 0.4 mm（V）

※ 16 keV以上のX線を使用する場合は、ビームライン調整が必要なため事前にご相談ください。

※試料雰囲気制御が必要な実験(加熱やガス使用等)は必ず事前にご相談ください。
　(原則、共同研究にて実施します)

研究分野 （キーワード）

バルク、薄膜、粉末、ナノスケール材料の組成、構造、形態、膜厚評価等

実験ステーション

 単色X線トポグラフィー

 薄膜X線回折測定装置

 粉末X線回折装置（デバイ・シェラーカメラ）