BL10：ナノサイエンスビームライン

電子蓄積リングの直線部に設置した偏光可変アンジュレータ（APPLE-Ⅱ型）からの高輝度な軟X線を利用して、材料評価などを行うことができます。光電子顕微鏡（PEEM¹⁾）装置と角度分解光電子分光（ARPES²⁾）装置が設置されています。

1）PEEM：Photoemission Electron Microscopy

2）ARPES：Angle-resolved Photoemission Spectroscopy

偏光可変アンジュレータ

（APPLEⅡ）

角度分解光電子分光

（ARPES）装置　

光電子顕微鏡

（PEEM）装置

BL10 全景

光子エネルギー範囲	40 eV 〜 900 eV
エネルギー分解能（E/△E）	〜 7500@400 eV
光子数	〜 1 × 10¹⁰ photons/sec
偏光モード	水平直線偏光、円偏光（右回り、左回り）、楕円偏光、垂直直線偏光（※偏光モードについては、ご相談ください）
ビームサイズ（試料面）	PEEM装置：150 μm（H） × 20 μm（V） ARPES装置：500 μm（H） × 100 μm（V）

研究分野（キーワード）

PEEM（試料表面や超薄膜の仕事関数・電子状態・元素・化学結合状態を反映した２次元実空間像、等）、ARPES（表面・界面における組成・化学結合状態及び電子状態の分析、エネルギーバンド構造の観測、表面に配列した原子や分子の構造解析、等）、NEXAFS（軽元素含有材料の局所構造解析等）