XPS/NEXAFS測定装置 Ⅰ
測定手法
- 本装置はXPSとNEXAFS測定が可能
- XPS測定(Mgkα線、Alkα線を利用したXPS測定も可能)
- NEXAFS測定(全電子収量法、全蛍光収量法)
アナライザー
- 偏向角:180 °
- 電子軌道中心直径:279.4 mm
- 検出系:16チャンネルMCD
- アパーチャー:0.8 mmΦ
試料ステージ
- 4軸
- 試料加熱/冷却:873 K 〜 163 K(LN2)
- 試料電流測定
試料導入チェンバー
Arスパッタ銃/電子中和銃 付属
本装置では、板状、粉末、線状の試料に対して、同一箇所でのXPS測定および NEXAFS測定が可能です。NEXAFS測定は、試料電流測定法、直入射条件となります(偏光角依存性はNEXAFS測定装置Ⅱを使用してください)。 なお、測定は超高真空中で行うため、揮発性試料の測定は行えません。詳細についてはご相談ください。
- 試料位置でのシンクロトロン放射光のサイズは、横約1.5mm、縦約0.6mmです。
- 試料ホルダー上の試料ホルダーは、外径1インチの円形であり、取付けネジ用タップが開けられています(アルバック・ファイ社製)。通常、穴あきマスクを用いて試料を挟み、固定します。最適試料サイズは、約4 mm × 4 mm 〜 15 mm × 15 mm程度、厚さ0.2 mm 〜 1 mm程度です。 厚みが5 mm以上ある試料は、凹み付き試料ホルダーでの対応となります。凹みのサイズは、20 mm × 10mm、深さ5 mmです。その他特殊な形状の試料は別途ご相談ください。
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平形ホルダー |
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二穴マスク(左)、三穴マスク(右)を用いての複数枚試料取付け例
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凹み付きホルダー |
試料搬送導入機 (型式SAG-TRA)※
試料を大気開放することなく分析装置へ導入できる装置です。XPS/NEXAFS測定装置、及びNEXAFS測定装置 Ⅱでの利用が可能です。
当研究センターに設置したグローブボックスを利用することも可能です。
特徴:試料を真空雰囲気(1 × 10-3 Pa以下)あるいはArやN2ガスなどの不活性ガス雰囲気で持ち運べます。
- 装置の上部フランジ(ICF34)より容器内の真空排気が可能です。
- あらかじめICF34にバルブを取付け、容器内を真空引きし封じることで、1 × 10-3 Pa以下を20日間以上保つことができます。
- 当センターのXPS/NEXAFS装置と接続する場合、専用の変換フランジを使用します。重さは約1 kg程度です。専用ケースに入れて持ち運びできます。
- 容易に洗浄やメンテナンスができます。
- バルブや専用の変換フランジも貸し出します。
- 各装置*)に対応した試料搬送導入機があります。
*)
1 XPS/NEXAFS測定装置 Ⅰ
2 XPS/NEXAFS測定装置 Ⅱ
3 PEEM測定装置
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試料搬送導入機 |
NEXAFS測定装置Ⅱ
測定手法
試料ステージ
試料導入チェンバー
本装置では、板状試料に対して、偏光角/面内回転角依存性NEXAFS測定(試料電流測定法)が(同一試料で)行えます。なお、測定は超高真空中で行うため、揮発性試料の測定は行えません。詳細についてはご相談ください。
- シンクロトロン放射光のサイズは、装置上流側スリットにより調整します。通常、横約1 mm 〜 2 mm 、縦約1.5 mm程度に調整します。
- ホ ルダーの試料取付け面のサイズは、17 mm2 × 18 mm2です。試料は、取付けネジと板バネを用いて固定します。斜入射条件での測定を行うた め、試料サイズは、約10 mm2 × 10 mm2以上必要です。なお、厚みが1 mm以上ある試料の場合には、事前にご相談ください。
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試料ホルダーと板バネ
および取付けネジ
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板バネ等をホルダーにセットした状態
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試料取付け例 |
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