偏向電磁石からのシンクロトロン放射光を利用できるビームラインです。2.1 keV ~ 23 keVのX線を利用して材料評価などを行うことができます。ビームラインには上流側より第1実験ハッチと第2実験ハッチが設置されています。第2実験ハッチには、XAFS測定装置が常設されており、透過法、蛍光収量法、転換電子収量法でのXAFS測定が可能です。石英製加熱炉とガス除害設備を利用したin situ XAFS測定も可能です。また、測定機器の組み換えにより、小角X線散乱(SAXS)測定も可能です。
光子エネルギー範囲 |
2.1 keV 〜 23※ keV |
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エネルギー分解能 (ΔE/E) |
10-4 〜 10-3 |
光子数 |
2 × 109 photons/sec@7.2 keV |
ビームサイズ (試料面) |
5 mm(H) × 1 mm(V) (スリットサイズによる) |
※試料雰囲気制御が必要な実験(加熱やガス使用等)は必ず事前にご相談ください。
(原則、共同研究にて実施します)
硬X線XAFS・Tender X線XAFS(EXAFS、XANES)、X 線小角散乱(SAXS)
XAFS測定関連機器: イオンチェンバー、シリコンドリフト検出器(単素子SDD、7素子SDD)、ライトル検出器、転換電子収量検出器(他BLと共用)、クライオスタット(15K~室温のXAFS測定)、透過法用石英製加熱炉(室温~1073KのXAFS測定)、蛍光収量法用石英製加熱炉(室温~873KのXAFS測定)