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Ⅰ 概要
Ⅱ 利用
1 利用実績
2 利用研究の事例
(1) 散乱X線を用いた元素イメージングの検討
(2) 放射光を用いたアモルファスIn2O3系薄膜の結晶化に関する評価
(3) NASICON型リチウムイオン伝導体の精密構造解析
(4) サイクロンで採取した大気粒子物質のXANES解析
(5) X線トポグラフィーによる4H-SiC中に形成された結晶欠陥の評価
3 利用促進
Ⅲ 加速器/ビームライン等の現状
1 加速器
2 県有ビームライン
3 ナノスケール表面界面ダイナミクスビームライン(BL13;佐賀大学)
4 九州大学硬X線ビームライン(BL06;九州大学)
5 住友電工ビームライン(BL16、BL17;住友電気工業株式会社)
6 九州大学クリーン実験ステーション(クリーンルーム;九州大学)
Ⅳ 研究開発
Ⅵ 広報、人材育成
Ⅶ 委員会
Ⅷ 安全管理
Ⅸ 施設管理
Ⅹ 出版物等
付録
1 収支
2 運営組織
3 アクセス