BL15:物質科学ビームライン

偏向電磁石からのシンクロトロン放射光を利用できるビームラインです。3.5 keV 〜 23 keVのX線を利用して材料評価などを行うことができます。H2ガスの供給・除害設備を利用することができます。
 

     
単色X線トポグラフィー

薄膜X線回折用多軸回折計

(RIGAKU製 SmartLab.)

粉末X線回折装置

(デバイシェラーカメラ)

 

光子エネルギー範囲 3.5 keV 〜 23keV
エネルギー分解能(△E/E) 10-4 〜 10-3
光子数 108 〜 1011 photons/sec
ビームサイズ(試料面) 0.5 mm(H) × 0.4 mm(V)

※ 16 keV以上のX線を使用する場合は、ビームライン調整が必要なため事前にご相談ください。



研究分野 (キーワード)

バルク薄膜粉末ナノスケール材料の組成構造形態膜厚評価等



実験ステーション

単色X線トポグラフィー

薄膜X線回折測定装置

粉末X線回折装置(デバイ・シェラーカメラ)

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